Конспект лекций по предмету "Физические явления"


Методы исследования наноматериалов и наноструктур

| следующая статья ==>





Атомная структура наноструктур исследуется с использованием про­свечивающего электронного микроскопа в режиме микродифракции.
Для пре­дотвращения радиационного повреждения пленок электронным пучком дифракционная картина ре­гистрируется при низкой интенсивности пучка с использованием высокочувствительной видео­камеры с зарядовой связью.
Электронная структура пленок исследуется методами фотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов.

Электронная микроскопия. На рис. 2 представлены типичные картины электронной дифракции от пленок углерода, осажденных на поверхность NaCl.


Оже-электронная спектроскопия является од­ним из методов исследования электронной структуры валентной зоны и химического со­става материалов. Наиболее важная информа­ция о типе химической связи между атомами углерода содержится в положении и форме CKVV-линии Оже-спектра углерода.




Для сравнения там же в нижней части рисунка представлены рассчитанные положения уровней энергий электронов для линейных цепочек углерода С„, п = 2,3,... ,8.



Электронная структура графита существенно отличается от структуры одномерного углерода. Данные электронной спек­троскопии подтверждают линейно-цепочечную структуру полученных пленок углерода.

Атомно-силовая микроскопия. Ори­ентированные пленки sp1-углерода толщиной 4 нм изучались в атомно-силовом микроскопе (АСМ). На рис. 8,а показана картина, полученная в АСМ в режиме измерения высоты. Хорошо видна гексагональная решетка, сформированная атомами углерода на концах цепочек. Параметр гексагональной решетки a - 0,486 нм.


Туннельная микроскопия. Свободная пленка sp1-углерода толщиной 27 нм помещалась на пленку золота. Толщина пленки определялась в атомно-силовом микроскопе по высоте ступеньки на краю пленки. На рис. 8,6 показано изображе­ние поверхности sp1-углеродной пленки, полу­ченное в сканирующем туннельном микроскопе (СТМ). Для сравнения справа показано СТМ-изображение пленки золота. В соответствии с АСМ-данными поверхность этой пленки исклю­чительно гладкая. В противоположность данным АСМ, изображение, полученное в СТМ, выявляет структуру, относящуюся к подложке, состоящей из островков золота.

| следующая статья ==>


Не сдавайте скачаную работу преподавателю!
Данный конспект лекций Вы можете использовать для создания шпаргалок и подготовки к экзаменам.

Поделись с друзьями, за репост + 100 мильонов к студенческой карме :

Пишем конспект самостоятельно:
! Как написать конспект Как правильно подойти к написанию чтобы быстро и информативно все зафиксировать.