Аннотация рабочей программы дисциплины«Дифракционный структурный анализ» Направление подготовки 011200 «Физика» Профиль «Физика конденсированного состояния вещества» (магистратура)1. Принципы построения курса: Курс входит в профессиональный цикл (базовая часть М2.Б.02) ООП магистратуры по направлению подготовки 011200 «Физика». Профиль «Физика конденсированного состояния вещества». Курс изучается в 1 семестре. Общая трудоемкость освоения дисциплины «Дифракционный структурный анализ» составляет: 4 зачетных единиц (144 часа), в том числе лекции- 18 часов, лабораторные работы – 36 часов, СРС- 63 часа, Итоговая аттестация – экзамен.^ 2.Цели и задачи дисциплины.Цели освоения дисциплиныОсновная цель курса для студента заключается в освоении методов рентгеноструктурного анализа. Ядро курса представляет собой основы дифракции рентгеновских лучей. Задачами дисциплины является овладение методами рентгеноструктурного анализа и применения к расчету кристаллических структур.^ 3. Требования к уровню освоения содержания дисциплины. Процесс изучения дисциплины направлен на формирование следующих компетенций: ОК-1, ОК-3, ПК-3, ПК-1, ПК-7, ПК-9.^ Результаты освоения дисциплины В результате изучения дисциплины «Дифракционный структурный анализ», входящей в базовую часть профессионального цикла дисциплин ФГОС ВПО, основной образовательной программы и учебного плана профилей направления подготовки 011200 «Физика» обучающийся должен:знать: -принципы работы рентгеновских установок, приготовления образцов -основные методы рентгеноструктурного анализа и их применениеуметь: -делать обобщения полученных знаний -планировать проведение экспериментальных работ -пользоваться источниками публикаций -формулировать, прогнозировать, обосновывать задачи научных исследований владеть: - знаниями о структуре твердых веществ - методами рентгеноструктурного анализа - знаниями о применении методов рентгеноструктурного анализа ^ 4. Содержание курса Введение. Рентгенотехника. Рентгеновские трубки. Рентгеновские аппараты. Методы регистрации рентгеновского излучения. Счетчики: газовые, твердотельные. Свойства рентгеновских лучей. Спектры рентгеновских лучей: тормозной, характеристический. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом.. Истинное атомное поглощение. Рассеяние. Элементы кристаллографии: элементы симметрии, категории, сингонии, классы, решетки Бравэ, пространственные группы, кристаллографические символы. Кристаллографические проекции. Сетка Вульфа. Обратная решетка. Сфера Эвальда. Уравнения Лауэ, уравнение Вульфа - Бреггов. Основные методы рентгеноструктурного анализа.. Метод Лауэ.. Метод вращающегося кристалла.. Метод порошка (метод Дебая - Шеррара - Хелла). Этапы расшифровки атомной структуры кристаллов. Интерференция рентгеновских лучей рассеянных кристаллами. Множители интенсивности. Рассеяние электроном. Поляризационный множитель. Рассеяние простой решеткой. Атомный множитель. Рассеяние сложной решеткой. Структурный множитель. Температурный множитель. Множитель повторяемости. Множитель Лоренца. Множитель поглощения.. Сводная формула интегральной интенсивности дифракционных максимумов. Понятие о динамической теории интерференции: первичная и вторичная экстинкция. Рентгеновский фазовый анализ.. Количественный фазовый анализ.. Качественный фазовый анализ. Прецизионное определение параметров решетки кристаллического вещества. Изучение напряжений I и II рода, рекристаллизация. Современные методы исследования структур с помощью рентгеновских лучей: топография, малоугловые исследования. Двукристальные и трехкристальные спектрометры. Рефлектометрия.