Методы исследования материалов и структур электроники: Рентгеновская дифракционная микроскопия : Курс лекций для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и напрвлений: 5516, 5507, 5531

Список литературы: Библиографическая карточка:

Автор:Бублик В.Т. ( Бублик Владимир Тимофеевич)
Ответственность:Рец. А.Н. Иванов ; Каф. материаловедения полупроводников МИСиС
Место издания:М.
Издательство:МИСиС
Год издания:2006
Количество страниц:93 с.
Библиография:Библиогр.: с. 92
Авторский знак:Б 90
Тип документа:Учебные пособия
Тип содержания:Учебные издания
Илл./тип воспроизв.:ил., табл.

Поделись с друзьями, за репост + 100 мильонов к студенческой карме :