Методы исследования структур кристаллов: Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решётки : Лабораторный практикум для студентов специальностей: 071000, 210100, 550700, 553100

Список литературы: Библиографическая карточка:

Автор:Мильвидский А.М. ( Мильвидский Андрей Михайлович)
Ответственность:Под ред. В.Т. Бублика ; Рец. Г.Д. Кузнецов ; Федеральное агентство по образованию, Каф. материаловедения полупроводников МИСиС
Место издания:М.
Издательство:МИСиС
Год издания:2005
Количество страниц:21 с.
Библиография:Библиогр. в конце лаб. работ
Авторский знак:М 60
Тип документа:Учебные пособия
Тип содержания:Учебно-практические издания
Илл./тип воспроизв.:ил.

Поделись с друзьями, за репост + 100 мильонов к студенческой карме :