Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"

Список литературы: Библиографическая карточка:

Ответственность:[под общ. ред. М.М. Криштала ; рец.: А.М. Глезер, В.С. Кондратенко] ; Криштал М.М. и др.
Место издания:М.
Издательство:ТЕХНОСФЕРА
Год издания:2009
Количество страниц:208 с.
Классификационный индекс:УМО по образованию в
Серия:Мир физики и техники
Авторский знак:С 42
Тип документа:Учебные пособия
Тип содержания:Учебные издания
Илл./тип воспроизв.:ил., табл.

ISBN: 978-5-94836-200-7

Поделись с друзьями, за репост + 100 мильонов к студенческой карме :