Диагностика полупроводниковых наногетероструктур методами спектроскопии адмиттанса: Монография предназначена специалистам, работающим в областях микро- и наноэлектроники, твердотельной электроники, микро- и нано-системной техники, аспирантам и студентам, обучаюшимся по направлениям 210100 "Электроника и микроэлектроника" и 210600 "Наноте

Список литературы: Библиографическая карточка:

Автор:Зубков В.И. ( Зубков Василий Иванович)
Ответственность:Рец.: С.Ю. Давыдов ; Санкт-Петербургский государственный электротехнический ун-т "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)
Место издания:СПб.
Издательство:Элмор
Год издания:2007
Количество страниц:220 с.
Библиография:Заключ.: с. 204.-Библиогр.: с. 205-219
Авторский знак:З-91
Тип документа:Монографии
Тип содержания:Научные издания
Илл./тип воспроизв.:ил., табл.

ISBN: 5-7629-0844-5

Поделись с друзьями, за репост + 100 мильонов к студенческой карме :