Реферат по предмету "Разное"

Узнать цену реферата по вашей теме


Антонов Р. О., Конкина В. В., Зеленин А. Д., Шубин И. Н

Антонов Р.О., Конкина В.В., Зеленин А.Д., Шубин И.Н. ФГБОУ ВПО «Тамбовский государственный технический университет» Кафедра «Техника и технологии производства нанопродуктов»АНАЛИЗ УГЛЕРОДНОГО НАНОМАТЕРИАЛА МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИПроизводство высокотехнологичных нанопродуктов предусматривает определение их физико-механических и физико-химических характеристик, которое не возможно без современных средств анализа. И если для определения физико-химических характеристик данных материалов (например, удельной поверхности и размера пор) достаточно стандартных аналитических комплексов (сорбтометра, хроматографа и др.), то определение линейных параметров материала (диаметра и длины волокон) до недавней поры вызывало проблему, в первую очередь из-за размеров исследуемого материала. Развитие методов электронной микроскопии позволило разрешить эти проблемы. На кафедре «Техника и технологии производства нанопродуктов» Тамбовского государственного технического университета для определения линейных характеристик углеродного наноматериала серии «Таунит» применяется ряд электронных микроскопов. Электронная микроскопия - совокупность электронно-зондовых методов исследования микроструктуры твердых тел, их локального состава и микрополей (электрических, магнитных и др.) с помощью электронных микроскопов - приборов, в которых для получения увеличения изображений используют электронный пучок. Различают два главных направления электронной микроскопии: трансмиссионную (просвечивающую) и растровую (сканирующую). Они дают качественно различную информацию об объекте исследования и часто применяются совместно. Рассмотрим их применительно к исследованию углеродного наноматериала серии «Таунит».^ Просвечивающая электронная микроскопия. Основным инструментом просвечивающей электронной микроскопии является просвечивающий электронный микроскоп (рис. 1). Рисунок 1 - УНМ «Таунит». Просвечивающая электронная микроскопия. Изображения получены на просвечивающем электронном микроскопе JEM 200CX, расположенном в Федеральном государственном учреждении «Технологический институт сверхтвёрдых и новых углеродных материалов», г. ТроицкПросвечивающий электронный микроскоп  - это установка, в которой изображение от ультратонкого объекта (толщиной порядка 0,1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца с последующим увеличением магнитными линзами (объектив) и регистрацией на флуоресцентном экране. Для регистрации изображения возможно использование сенсоров, например, ПЗС-матрицы. ^ Растровая электронная микроскопия (РЭМ). Этот метод основан на зондировании поверхности изучаемого образца электронным зондом. Сущность метода состоит в том, что поверхность массивного образца облучается тонко сфокусированным (диаметром до 5-10 нм) пучком электронов - так называемым электронным зондом. Пучок электронов совершает возвратно-поступательное движение по линии или развертывается в растр - совокупность близко расположенных параллельных линий, вдоль которых пучок электронов обегает выбранный для исследования участок поверхности. Основная область применения РЭМа - анализ рельефа поверхности, в особенности изломов (фактография). Преимущества РЭМ по сравнению с другими микроскопами здесь наиболее заметны. В связи с тем, что изображение обычно формируется с помощью вторичных электронов, зона выхода которых ограничена малой областью вокруг места падения зонда, достигается высокая разрешающая способность (рис. 2).Рисунок 2 - УНМ «Таунит». Сканирующая электронная микроскопия. Изображение получено на сканирующем электронном микроскопе Neon 40, расположенном в Научно-образовательном центре «Нанотехнологии и наноматериалы» ТГУ им. Г.Р. Державина, г. ТамбовЭто позволяет исследовать мельчайшие детали рельефа поверхности. РЭМ обеспечивает также большую резкость в сочетании с наглядностью изображения. Это дает возможность исследовать объекты с сильно развитой поверхностью. Таким образом, имеющийся современный аналитический инструментарий позволяет исследовать широкий комплекс физико-механических характеристик углеродного наноматериала серии «Таунит», разрабатываемых на кафедре «Техника и технологии производства нанопродуктов».


Не сдавайте скачаную работу преподавателю!
Данный реферат Вы можете использовать для подготовки курсовых проектов.

Доработать Узнать цену написания по вашей теме
Поделись с друзьями, за репост + 100 мильонов к студенческой карме :

Пишем реферат самостоятельно:
! Как писать рефераты
Практические рекомендации по написанию студенческих рефератов.
! План реферата Краткий список разделов, отражающий структура и порядок работы над будующим рефератом.
! Введение реферата Вводная часть работы, в которой отражается цель и обозначается список задач.
! Заключение реферата В заключении подводятся итоги, описывается была ли достигнута поставленная цель, каковы результаты.
! Оформление рефератов Методические рекомендации по грамотному оформлению работы по ГОСТ.

Читайте также:
Виды рефератов Какими бывают рефераты по своему назначению и структуре.